斯考拉申请太赫兹测量装置和用于校准太赫兹测量装置的方法专利，能够确定物品的壁厚_消费观察

斯考拉申请太赫兹测量装置和用于校准太赫兹测量装置的方法专利，能够确定物品的壁厚

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2026-06-19 11:21:10

国家知识产权局信息显示，斯考拉有限公司申请一项名为“太赫兹测量装置和用于校准太赫兹测量装置的方法”的专利，公开号CN122139105A，申请日期为2024年10月。

专利摘要显示，本发明涉及用于测量物品的壁厚的太赫兹测量装置，其中该太赫兹测量装置具有以转动环或沿转动环围绕在测量期间容纳该物品的测量区域可转动的太赫兹发送器和以转动环或沿转动环围绕测量区域可转动的太赫兹接收器，其将由太赫兹发送器发出到该物品上的太赫兹辐射在由布置在测量区域中的物品反射之后接收，且其中太赫兹测量装置还包括分析处理机构，其构成为，由太赫兹接收器的测量数据确定物品的壁厚。本发明此外涉及用于校准这样的太赫兹测量装置的方法。

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来源：市场资讯

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